+7 (7273) 508244

Микроскоп МОМ

Микроскопы отсчетные МОМ предназначены для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.

Технические характеристики
Характеристики Значение
Увеличение 20х крат
Цена давления 0,01 мм
Увеличение обьектива
Увеличение окуляра 20х
Фокусное расстояние 30 мм
Наличие подсветки нет